我們的模塊化科研級(jí)Nanolog穩(wěn)瞬態(tài)熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料的研究而設(shè)計(jì)的。
Nanolog?系列熒光光譜儀是專門為納米技術(shù)和納米材料等前沿研究而設(shè)計(jì)的?？蓪?shí)現(xiàn)幾毫秒內(nèi)獲得完整光譜，幾秒內(nèi)獲得而完整的激發(fā)發(fā)射三維矩陣。
基于世界公認(rèn)的Fluorolog?技術(shù)，Nanolog?除可實(shí)現(xiàn)紫外和可見光區(qū)域內(nèi)熒光檢測(cè)外，也可在800-1700nm的近紅外范圍內(nèi)檢測(cè)熒光信號(hào)（可選擇多通道檢測(cè)至2um，單通道檢測(cè)至3um。Nanolog?配有專門設(shè)計(jì)的軟件Nanosizer，是對(duì)SWNTs、量子點(diǎn)等納秒材料進(jìn)行分類和能量傳遞計(jì)算的理想選擇。
概要：
技術(shù)特點(diǎn)
超快三維光譜采集速度（在幾秒鐘內(nèi)即可快速完成激發(fā)-發(fā)射矩陣掃描）
陣列InGaAs檢測(cè)器具有近紅外高靈敏度
高分辨率
實(shí)現(xiàn)SWNTs種類和系列的鑒定和量化分析
兼容從紫外到近紅外等各種檢測(cè)器
光電倍增管可現(xiàn)在最高靈敏度和時(shí)間分辨分析
CCD和陣列InGaAs檢測(cè)器可實(shí)現(xiàn)數(shù)據(jù)快速采集
量子點(diǎn)混合物能量傳遞實(shí)驗(yàn)研究
模塊化設(shè)計(jì)
配置：
450 W 連續(xù)氙燈，用于從紫外到近紅外區(qū)域激發(fā)
幾秒鐘完成激發(fā)-發(fā)射三維矩陣掃描
InGaAs陣列檢測(cè)器。800-1700nm；256 x 1,512 x 1和1024 x 1三種像素格式，間距小至25 μm；噪聲低至650 erms，液氮制冷以獲得最佳信噪比；可選擇電制冷；擴(kuò)展檢測(cè)范圍選項(xiàng)（1.1 - 2.2 μm）。
iHR320成像光譜儀：焦距=320mm；f/4.1；色散=2.31nm/mm；分辨率=0.06nm（帶狹縫）；軟件控制的三層光柵塔輪（所有測(cè)量均采用1200 grove/mm的光柵
可提供固態(tài)近紅外檢測(cè)器，紫外到近紅外的光電倍增管，時(shí)間相關(guān)單光子計(jì)數(shù)的壽命測(cè)試（100ps到1ms，紫外到近紅外），門控技術(shù)的壽命測(cè)試（1μs到>10s，紫外到近紅外），以及頻域壽命測(cè)量（10ps到10μs，紫外到近紅外）。
光路圖
應(yīng)用：
NonoLog進(jìn)行碳納米管的熒光光譜研究  單壁碳納米管(SWNTs)是一種由碳原子卷成的單層碳納米管，近年來受到了廣泛的關(guān)注。 | SWNTs的發(fā)光研究  | |
碳納米管更好信噪比光譜的獲得  修正的碳納米顆粒發(fā)射光譜1可以提供激發(fā)波長范圍內(nèi)的激發(fā)-發(fā)射矩陣(EEMs)。 | 量子點(diǎn)近紅外光致發(fā)光檢測(cè)  HORIBA Jobin Yvon的NanoLog?熒光光譜儀，專門為納米材料的近紅外熒光檢測(cè)而優(yōu)化，包括雙光柵激發(fā)單色儀、帶可選光柵轉(zhuǎn)臺(tái)的成像發(fā)射光譜儀和多種探測(cè)器 | |
量子點(diǎn)光致發(fā)光光譜檢測(cè)  量子點(diǎn)在光電子學(xué)、生物傳感、生物標(biāo)記、存儲(chǔ)器件和激光光源等領(lǐng)域都有著潛在的應(yīng)用。 | 使用NanoLog獲得更好的碳納米管數(shù)據(jù)  HORIBA Scientific NanoLog?是為研究單壁碳納米管(SWCNTs)的而設(shè)計(jì)的熒光光譜儀。 | |
熒光各向異性法測(cè)量二氧化硅納米顆粒  二氧化硅是目前最重要的工業(yè)材料之一，其納米顆粒是通過溶膠—凝膠過程形成的。 | NanoLog系列：新一代性能之作 NanoLog?被譽(yù)為檢測(cè)單壁碳納米管（SWCNT）的首選儀器 |
Nanosizer? 軟件
Nanosizer? - 用于單壁碳納米管激發(fā)-發(fā)射三維矩陣圖譜的模擬和分析
Origin? Pro 8 的Nanosizer?簡化了單壁碳納米管激發(fā)-發(fā)射三維圖譜的模擬和分析過程。Nanosizer與我們的Nanolog熒光光譜儀一起使用，使用具有專利技術(shù)的雙卷積算法，專門為單壁碳納米管手性和直徑的分析而設(shè)計(jì)。
Nanosizer? 會(huì)進(jìn)行SWNT近紅外激發(fā)-發(fā)射熒光光譜數(shù)據(jù)模擬，同時(shí)與所測(cè)實(shí)際數(shù)據(jù)進(jìn)行比較。根據(jù)內(nèi)置數(shù)據(jù)庫，Nanosizer?可以迅速將特定的峰值定義到特定的SWNT（n,m）結(jié)構(gòu)，還可生成螺旋結(jié)構(gòu)圖。同時(shí)，Nanosizer?大大簡化了SWNT的FRET研究、長度分布分析和納米管純化分析。除此之外，Nanosizer?還可提供適合支持未來ISO和ASTM標(biāo)準(zhǔn)的平臺(tái)，用于識(shí)別和提純半導(dǎo)體的SWNTs。
完美用于SWNT中的FRET、長度分布分析和純化應(yīng)用分析
OriginPro? 8中Nanosizer?的特點(diǎn)和優(yōu)勢(shì)
高效的區(qū)域選擇和初始模型參數(shù)化
峰數(shù)量幾乎無限制
峰值參數(shù)的全局鏈接和固定
所有模型峰值參數(shù)的全面約束
快速模型參數(shù)化
實(shí)現(xiàn)多種二維分析光譜圖形狀：高斯、洛倫茲和Voigt卷積
殘差統(tǒng)計(jì)加權(quán)
全功能的擬合峰參數(shù)統(tǒng)計(jì)分析
擬合結(jié)果和殘差的圖形化和表格化顯示
以能量（cm-1，eV）或波長（nm）為單位的擬合數(shù)據(jù)
將峰值參數(shù)與用戶可編輯的庫（包含螺旋角、直徑和(n,m)分布圖和表格）進(jìn)行比較
為ISO和ASTM標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)用于半導(dǎo)體SWNT識(shí)別/定量